キヤノン「Dual Pixel AF II」システム、極限環境で真価を問うストレステストを実施

キヤノン独自の高性能オートフォーカスシステム「Dual Pixel AF II」は、その卓越した精度と速度で定評があります。しかし、実際の過酷な撮影環境において、その真価が本格的に試される機会はこれまで限られていました。

今回、この革新的なシステムが、最も厳しいフォーカシングシナリオで徹底的な性能検証に挑みました。具体的には、低コントラスト下での合焦、高速で移動する被写体の正確な追従、前景に障害物がある場合の的確な焦点選択、さらにはフレームの端に位置する被写体への確実なピント合わせなど、多岐にわたる「過酷な状況」が設定されました。

綿密に設定された環境下で行われたこのストレステストは、「Dual Pixel AF II」システムが市場の期待に応える性能をどこまで発揮できるのかを明らかにするものです。